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原子力顯微鏡(光學(xué)一體機(jī)) WY-Op-AFM

原子力顯微鏡(光學(xué)一體機(jī)) WY-Op-AFM
◆性能特點(diǎn):光學(xué)金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設(shè)計(jì),功能強(qiáng)大。同時(shí)具備光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能,兩者可同時(shí)工作,互不影響。同時(shí)具備光學(xué)二維測(cè)量和原子力顯微鏡三維測(cè)量功能。激光檢測(cè)頭和樣品掃描臺(tái)集成一體,結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定,抗干擾性強(qiáng)。精密探針定位裝置,激光光斑對(duì)準(zhǔn)調(diào)節(jié)非常簡(jiǎn)便。單軸驅(qū)動(dòng)樣品自動(dòng)垂直
服務(wù)熱線: 4001-123-022
  • ◆性能特點(diǎn):

    光學(xué)金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設(shè)計(jì),功能強(qiáng)大。

    同時(shí)具備光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能,兩者可同時(shí)工作,互不影響。

    同時(shí)具備光學(xué)二維測(cè)量和原子力顯微鏡三維測(cè)量功能。

    激光檢測(cè)頭和樣品掃描臺(tái)集成一體,結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定,抗干擾性強(qiáng)。

    精密探針定位裝置,激光光斑對(duì)準(zhǔn)調(diào)節(jié)非常簡(jiǎn)便。

    單軸驅(qū)動(dòng)樣品自動(dòng)垂直接近探針,使針尖垂直于樣品掃描。

    馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動(dòng)探測(cè)的智能進(jìn)針方式,保護(hù)探針及樣品。

    超高倍光學(xué)定位系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位。

    集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測(cè)量精度優(yōu)于98%。


    ◆測(cè)量范圍及應(yīng)用:

    測(cè)量范圍:二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

    應(yīng)用:納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復(fù)材、分子篩、TiO2、CrPS4(15)、CrPS4(16)、中空纖維膜絲、粗糙度測(cè)試、四氧化三鐵、M13-PBA等。


    ◆ 應(yīng)用案例 Application Case

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  • 序號(hào)

    名稱

    技術(shù)參數(shù)

    01

    工作模式

    接觸模式、輕敲模式

    02

    選配模式

    摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力/靜電力

    03

    力譜曲線

    F-Z力曲線、RMS-Z曲線

    04

    XY掃描范圍

    50×50um,可選20×20um,100×100um

    05

    Z掃描范圍

    5um,可選2.5um,10um

    06

    掃描分辨率

    橫向0.2nm,縱向0.05nm

    07

    樣品尺寸

    Φ≤68mmH≤20mm

    08

    樣品臺(tái)行程

    25×25mm

    09

    光學(xué)物鏡

    5X/10X/20X/50X平場(chǎng)復(fù)消色差物鏡

    10

    光學(xué)目鏡

    10X

    11

    照明方式

    LED柯勒照明系統(tǒng)

    12

    光學(xué)調(diào)焦

    粗微動(dòng)手動(dòng)調(diào)焦

    13

    攝像頭

    500萬像素CMOS傳感器

    14

    顯示屏

    10.1寸平板顯示器,帶圖像測(cè)量功能

    15

    掃描速率

    0.6Hz~30Hz

    16

    掃描角度

    0~360°

    17

    運(yùn)行環(huán)境

    Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng)

    18

    通信接口

    USB2.0/3.0


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◆性能特點(diǎn):實(shí)現(xiàn)探針和樣品組合式移動(dòng)掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡。國(guó)內(nèi)頭家采用三軸獨(dú)立閉環(huán)壓電平移式掃描臺(tái),實(shí)現(xiàn)大范圍高精度掃描。三軸獨(dú)立式掃描,XYZ互不影響,非常適合三維材料及形貌檢測(cè)。電動(dòng)控制樣品移動(dòng)臺(tái)和升降臺(tái),可任意編程多點(diǎn)位置實(shí)現(xiàn)快速自動(dòng)化檢測(cè)。龍門架式掃描頭設(shè)計(jì),大理石底座,真空吸附和磁
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