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理解各種電子顯微鏡原理
來源: | 發(fā)布日期:2022-05-17 10:32:06
 

介紹各種電子顯微鏡的基本工作原理。TEM/SEM/STM/AFM。

透射電子顯微鏡 TEM(Tran ** ission Electron Microscope)

電子束通過樣品成像。與普通生物透射顯微鏡更基本的工作機制相同,德布羅意波長較短,僅利用電子作為粒子來實現(xiàn)更精細(xì)的分辨率。

掃描電子顯微鏡 SEM (Scanning Electron Microscope)

顯微鏡只能觀察樣本表面,電子照射到樣本表面,反射成像。

掃描隧道顯微鏡 STM(Scanning Tunneling Microscope)

通過一個非常時,電子可以通過量子隧道距離足夠近時,電子可以通過量子隧道通過探針與樣品之間的間隙形成電流。距離越近,電流越大。在掃描過程中,上下移動探針以恒定電流,并記錄探針的上下移動。由于工作原理的限制,顯微鏡只能測量導(dǎo)電樣品的表面。

顯微鏡 原子力AFM (Atomic Force Microscope)

又稱掃描顯微鏡(Scanning Force Microscope)。其原理是通過彈性臂/箔(下圖6)上的探針接近樣品表面。在掃描和移動過程中,表面原子的排列將反映在彈性臂/箔的變形上,然后測量其變形。上述隧道效應(yīng)可用于測量變形,如下圖所示。激光也可用于測量。這種顯微鏡不應(yīng)被視為電子顯微鏡。該顯微鏡可用于測量非導(dǎo)體表面原子結(jié)構(gòu)。

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